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14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

簡要描述:
激光光斑光束質量分析儀BLC1515經過內部光學系統(tǒng),將其傳輸到14.3 * 14.3 mm CMOS大靶面,可測試光束波長范圍為300-1100nm,待測聚焦光斑直徑從最小35 μm到 14.3mm。14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

更新時間:2024-10-12

訪問量:236

廠商性質:生產廠家

生產地址:深圳

一、產品介紹

激光光斑光束質量分析儀BLC1515經過內部光學系統(tǒng),將其傳輸到14.3 * 14.3 mm CMOS大靶面,可測試光束波長范圍為300-1100nm,待測聚焦光斑直徑從最小35 μm到 14.3mm。

通過軟件軟件可以顯示光斑橫截面的二維或者三維強度分布擬合圖,同時可以顯示光斑的兩維方向的尺寸、橢圓度、相對位置、強度等量化數據等其它功能。

二、產品規(guī)格

型號BLC1515
波長300-1100nm
感光面積14.3x14.3mm
可測光斑35μm-14.3mm
像素3.5um
分辨率4096x4096
位深度12bit
幀數5
曝光時間20μs - 500ms
增益0 - 36 dB
觸發(fā)軟觸發(fā)/硬觸發(fā)可選
飽和強度40u W/cm2@ 633nm
600puW/cm2@1064nm
靈敏度0.3nw/cm2
工作溫度0-50°C
尺寸29x29x45mm
工作模式全局快門
接口USB3.0
類型CMOS

三、公司介紹

深圳市博納德自主研發(fā)的光斑分析儀是基于高分辨率 CCD和CMOS面陣型光斑測量儀是一款能夠實時測量連續(xù)或脈沖激光束的實時診斷系統(tǒng)。產品波長范圍覆蓋266 ~17O0mm,像素最小達到2.5*2.5u m,探測器面積最大可達25*25mmLaserCheck 系列光斑分析儀不僅能實時顯示激光2D/3D圖像,導出光強分布數據,且提供激光束參數實時演示和分析能力,具體測量的參數包括:光束直徑、光斑的形狀、位置、功率、強度分布、橢圓度等眾多參數,同時還提供了報表功能,記錄光束分析設置和可實現激光光斑質量檢測、光斑大小、光斑點穩(wěn)定性、一維、二維、三維能量分布等多參數測量,純中文操作界面,直觀友好,功能非常強大。

14.3mm大靶面CMOS激光光斑分析儀BLC1515

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